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我们的近红外分析仪可监测半导体、IC、PCB 和太阳能电池制造中酸浴、湿法蚀刻、清洁和回收的溶液强度和水分
苛刻的酸、苛性碱和清洁溶液是半导体制造、工业清洁和各种其他应用的重要组成部分。需要监测其浓度,以确保有效使用和再利用。在线或在实验室中准确测定这些关键化学品的浓度。在线近红外分析仪与适用于此类困难的酸测量的探头兼容。
使用我们的NIR专用硬件在恶劣的环境中测量产品。组件由专为湿化学工艺设计的材料制成,本质安全且坚固耐用。在线或在实验室进行测量将实现最佳的过程性能。即使在高浓度和高温下也能测量各种酸和苛性碱。
H2SO4(硫酸) Na2CO3(碳酸钠) HF(氢氟酸) NH4OH(氢氧化铵) 盐酸(盐酸) SC-1
| HNO3(硝酸) SC-2 CH3COOH (醋酸) H2O2(过氧化氢) 氢氧化钠(氢氧化钠) TMAH(四甲基氢氧化铵) |
测量溶液和最终产品中的水分
监控解决方案恢复系统以节省资金并确保性能
确保最佳产品质量并降低运营费用
在线监测半导体制造和溶液回收中的浓度可以节省大量成本。最大限度地利用您的解决方案,实时监测和控制关键质量参数。在线监测关键成分的浓度可确保最佳性能并减少工艺变化。
同时测量多达 20 个酸浴或工艺流
通过 Modbus、4-20ma 等协议将您的分析仪直接集成到您的控制系统中
实时监控工艺流体,即时了解加工条件
让您的工厂在您设定的限制内运行该过程,并将其保持在这些限制内
用于恶劣环境下在线测量的测量探头
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